大面积MoS₂可改变磁性存储薄膜能量损失机制
曼彻斯特大学团队报告称,在原子级薄的二硫化钼(MoS₂)上生长磁性合金Permalloy,可同时影响薄膜表面与体内的能量损失来源与分布,为二维材料自旋电子器件的可扩展设计提供线索。
研究称背门控架构或高估二维晶体管实验性能
杜克大学团队在《ACS Nano》发表研究指出,二维晶体管常用的背门控测试架构会引发“接触门控”,从而降低接触电阻并放大器件指标;该效应在更小尺寸下更显著,可能导致实验室结果难以直接对应可商用器件表现。
曼彻斯特大学团队报告称,在原子级薄的二硫化钼(MoS₂)上生长磁性合金Permalloy,可同时影响薄膜表面与体内的能量损失来源与分布,为二维材料自旋电子器件的可扩展设计提供线索。
杜克大学团队在《ACS Nano》发表研究指出,二维晶体管常用的背门控测试架构会引发“接触门控”,从而降低接触电阻并放大器件指标;该效应在更小尺寸下更显著,可能导致实验室结果难以直接对应可商用器件表现。