研究称背门控架构或高估二维晶体管实验性能
杜克大学团队在《ACS Nano》发表研究指出,二维晶体管常用的背门控测试架构会引发“接触门控”,从而降低接触电阻并放大器件指标;该效应在更小尺寸下更显著,可能导致实验室结果难以直接对应可商用器件表现。
微反应器原位成像揭示二维半导体单层晶体生长机制
日本冈山大学团队在微受限反应空间内实现对单层过渡金属二硫族化物生长的实时观察,识别多种生长模式,并揭示熔融前驱体液滴在马兰戈尼效应驱动下参与物质输运的过程。
DNA折纸技术实现二维半导体上有机分子的精确图案化沉积
Skoltech联合德国慕尼黑路德维希-马克西米利安大学、中国南京大学和日本国家材料科学研究所提出一种概念验证方法,利用DNA折纸纳米结构在二硫化钼单层上按预设图案沉积有机染料分子,相关成果发表于《Small Methods》。