晶体管

科学 2026-04-04

杜克大学团队在《ACS Nano》发表研究指出，二维晶体管常用的背门控测试架构会引发“接触门控”，从而降低接触电阻并放大器件指标；该效应在更小尺寸下更显著，可能导致实验室结果难以直接对应可商用器件表现。

科学 2026-03-19

DGIST团队提出“双调制垂直堆叠晶体管”结构，在二维纳米级通道中实现稳定、无电流泄漏运行，为三维高度集成、低功耗半导体提供关键器件方案。